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장비현황

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저온 방치 시험기 Low Temperature Storage Life

시설장비등록번호
NFEC-2021-01-267003
제작사명 모델명
Espec PG-2J
표준분류
기계가공/시험장비 > 재료물성시험장비 > 온습도시험기

※ 정보출처 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr, T.1670-0925)

설치장소 : 파워반도체상용화센터

  • 장비설명

    • - 온도범위 : -70℃ ~ +150℃ - 온도 변화율 : ±0.3℃ - 챔버 내부 온도 분포도 : ±1.5℃ - 온도상승률 : 5.0℃/min - 온도하강률 : 2.0℃/min

  • 구성 및 성능

    • - 저온 방치 시험기(LTSL)는 소자가 저온 상태에서 장기간 보관 되었을 경우 어떤 영향을 받는지 평가하는 시험 장비로 신뢰성 평가를 위한 장비이다. - 소자에 전기적인 충격이 없는 상황에서 –40~-65℃ 에서 1,000시간을 진행하여 소자의 장시간에 대한 신뢰성을 평가하고, 저온 환경에서 Chip 상태의 열적 변화와 패키지, 리드 프레임의 온도 변화 상태에서 발생 될 수 있는 물리적 특성과 전기적 특성을 시험한다. - 소자에 전기적인 층격이 없는 상황에서 –40~-65℃ 저온 환경에서 긴 시간 소자 방치 후, 시료를 규정된 온도에서 규정된 시간동안 노출하는 과정으로 수행되며, 시험이 끝난 후 96시간 이내에 외관검사 및 전기적 특성 변화 테스트를 수행하는 장비이다.
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