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장비현황

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센서 복합테스트 장비 Diverse sensor testing system

시설장비등록번호
NFEC-2024-02-295014
제작사명 모델명
Spea H3580
표준분류
전기/전자장비 > 측정시험장비 > 광/LED/반도체/디스플레이측정시험장비

※ 정보출처 : ZEUS 장비활용종합포털(www.zeus.go.kr, T.1670-0925)

설치장소 : (재)부산테크노파크

장비문의 : 051-558-5414

  • 장비설명

    • 1. Inertial Sensor Stimulus (주장비)
      - Low g Accelerometer IC, Gyroscope IC 시험지원
      - 일체형 Accelerometer + Gyroscope

      2. MEMS Sensor IC Pick & Place Handler (주장비)
      - IC In/Output media：　Tray Input module , Tray output module
      - 49 or more Site Picker built
      - IC size : 2x2 mm　～7x7mm or more
      - Handling PKG: QFP, LGA, QFN, BGA, PGA, TQFP, SOXXX, SOTXXX
      - Pressure , Magnetic, Gyroscope, Accelerometer, Humidity Sensor docking

      3. Digital & Analog pin, Low Power Pin Electronics (부속장비)
      - 384 or more Channel analog with LF Digital , 5MHz or more
      - 384 or more Channel Digital pin with Per Pin PMU ; 50MHz or more

      4. Accessories (Test sockets, Load board, Test program, Diagnostic & Calibration kit) (보조장치)
      - 98 or more Site Test Sockets, Busan Technopark assigned IC
      - Busan Technopark assigned IC Load Board
      - Test Program (Busan TechnoPark IC)
      - Handler Calibration Kits

  • 구성 및 성능

    • MEMS 구조의 각종 센서 반도체의 빠른 검사를 위하여 제품에 전력 인가 및 전자적 통신을 위한 입출력 및 계측 시스템인 검사 설비의 사양을 보완하고, 자동차 automotive에 확대 채용 예정인 관성 센서(가속도 및 회전각)의 물리적 입력 및 환경을 조성하는 자극인가시스템 (Stimulus)과 동시에 검사할 수 있는 IC handler system으로 구성됨
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